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产品基本信息

通用型X射线检测系统XCT8500

产品概况:XCT8500采用YXLON开放式射线管设计,缺陷检测能力可达0.5s'μm,可实现2D/3D/CT等检测方式,适用于品质检测、三维测量和无损分析。产品标签:工业CT,3D检测,CT检测设备,3D扫描成像

产品详情
(提示:本文参数仅供参考,最终配置以实物为准。)

XCT8500通用型X射线检测系统-特点先容

应用优势

1、具备平面CT功能(PCT),可应用于印刷线路板、SMT、IGBT、晶圆等3D/CT检测。

2、具备锥束CT功能,可应用于传感器、继电器、微型马达、材料、铝铸件检测

3、便利的360°定点观察模式

4、2D气泡检测App模块(选配)

5、3D测量及分析App模块(选配)

应用领域

1、PCB上焊点焊接质量检测、BGA元器件、集成电路(IC)及其绑定线检测、半导体封装检测及内部连接、电子功率(IGBT)模块检测、Wafe缺陷检测(WLCSP)

2、传感器、继电器、保险丝、线圈、微型驱动系统及空气囊控制系统、微型马达(MEMS, MOEMS)、线缆及插头、塑料件,各种材料,如塑料、陶瓷、生物材料,光学元器件、小型钛铸件和铝铸件检测

360°旋转观察模式

设备技术参数

XCT8500通用型X射线检测系统

X射线管参数

射线管类型

开放式微焦点透射射线源

管电压范围

25 ~160KV

管电流范围

0.01mA ~ 1.0mA

更大管功率

64W

更大靶功率

10W

最小物距(FOD)

250 μm

微焦点尺寸

< 1 μm

最小缺陷检测能力

< 500 nm

平板探测器参数

平板类型

非晶硅平板探测器(可选)

像素矩阵

1536×1536

视场范围

130mm×130mm

分辨率

5Lp/mm

图像帧率(1×1)

20fps

AD转换位数

16bits

3D/CT参数(选配功能)

CT扫描周期

20s

CT重构时间

30s

设备性能参数

更大样品尺寸

750mm×650mm

更大检测区域

550mm×550mm

图像几何放大倍率

2000X

输入电源

220V 10A    50-60HZ

控制系统

DELL Precision T7920图形工作站

外形尺寸

L1600mm×W1700mm×H2000mm

设备净重

约2950KG

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